#電路設計 #運算放大器OPA #差模電容CDM #跨阻放大器TIA #量測
【別讓 OPA 輸入電容成為穩定性&相位餘裕殺手!】
輸入電容可能會成為高阻抗和高頻運算放大器 (OPA) 應用的一個主要規格。值得注意的是,當光電二極體的結電容較小時,運算放大器的輸入電容會成為「雜訊」和「頻寬」問題的主導因素。
運算放大器的輸入電容和回饋電阻在放大器的響應中產生一個極點,進而影響穩定性並增加較高頻率下的雜訊增益。因此,穩定性和相位餘裕可能會降低,輸出雜訊可能會增加。
以往一些CDM (差模電容) 測量技術依據的是高阻抗反相電路、穩定性分析以及雜訊分析,方法非常繁瑣——檢測 CDM 的傳統方法是間接測量,該方法依賴於「相位裕度的降低」,且因並聯使用 CCM– 等其他電容而變得更複雜。
現在,有了新的解決方案。
延伸閱讀:
《一種直接測量運算放大器輸入差分電容的方法》
http://compotechasia.com/a/tech_application/2020/0310/44191.html
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#亞德諾ADI #凌力爾特LTC #LTspice #LT1792 #LTC2050 #LT6200 #ADA4004
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預計出版:2017年2月14日
【延伸閱讀】
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光電二極體放大電路 在 Analog Devices台灣亞德諾半導體股份有限公司 Facebook 的最讚貼文
[新品快訊]ADI推出簡化感測器介面的整合式類比前端
全球高性能信號處理解決方案領導廠商Analog Devices, Inc.(ADI)亞德諾半導體公司近日推出具有整合型ADC驅動器的FET輸入AFE(類比前端)-ADA4350,專用於直接介接電流模式感測器(如光電二極體)和高輸出阻抗電壓感測器。ADA4350在單一封裝中整合了FET輸入放大器、交換式網路以及ADC驅動器。相較分離式方案,它可以簡化設計,降低功耗,PCB尺寸縮小50%以上。
ADA4350具備低雜訊性能,在10 Hz低頻下為90 nV/√Hz,100 kHz 時的寬頻雜訊為5 nV/√Hz,能夠將感測器輸出的信號雜訊比最大化。整合型增益開關支援寬動態範圍測量,可測量光子或電子等非常小的敏感信號。利用ADA4350內建可編程能力,設計人員可以選擇最佳化的外部回授元件。只需一顆晶片,便可將單端或差動感測器電流或電壓信號轉換為高速、低雜訊、單端或差動輸出電壓。
• 下載資料手冊、瀏覽產品網頁與訂購樣品:
http://www.analog.com/ADA4350
• 訂購ADA4350 評估用電路板:http://www.analog.com/EVAL-ADA4350
• 讓ADI技術論壇EngineerZone®上的ADI工程師給您答疑解惑: https://ez.analog.com/community/amplifiers
在分析測量應用中,可能需要監控強度範圍達數十dB的光信號。這就需要多種增益切換網路,它們常常包含多個外部放大器和類比開關,導致系統出現誤差的可能性加大。ADA4350整合了開關網路和輸入放大器,漏電流極小,並且允許開關網路最多選擇六個外部可配置的回授網路。在量測系統中,無論使用者如何調整儀器的輸入範圍,所有增益位準下都必須保持同樣高的測量精確度。ADA4350具有高阻抗/低Ib輸入放大器和序列埠控制的開關網路,因而非常適合測量較寬動態範圍的信號。該元件還能縮小PCB尺寸,同時大幅增加通道數,而不會產生熱密度限制問題。
ADA4350 FET輸入AFE特性
• 低雜訊、低輸入偏置電流FET輸入放大器
o 90 nV/√Hz (10 Hz)
o 5 nV/√Hz (100 Hz)
• 整合型增益開關
o 開關漏電流:± 1 pA(典型值)
• 整合型ADC驅動器
o 差動和單端模式
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