找尋任何元件失效的根本原因,可能很不容易,有些偶發性的狀況更難以偵錯。立錡科技累積了大量的失效分析案例,發現絕大多數的問題都是發生在 IC 輸入端的電氣過應力(Electrical Over Stress)上。EOS 是如何發生的呢?它又是如何導致 IC 失效的呢?本篇應用文章將分享我們的經驗,以及在設計和產品中應用的實際案例。讓您了解 Buck 轉換器 IC 輸入結構、EOS 與 ESD 差異、電源輸入端 EOS 的最常見原因:熱插拔以及自製 EOS 測試工具。
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