AI 自動光學 晶圓/晶片 瑕疵檢測 設備第一站：直徑量測利用客製背光模組，精準快速量測晶圓尺寸。第二站：厚度及 瑕疵檢測 利用電容式非接觸感測器加上環形 ... ... <看更多>

AOI（Automated Optical Inspection，自動光學檢測）是工業製程中用於檢測在製品品質的代表性手法，利用光學儀器取得成品或半成品表面狀態，再以電腦影像處理技術來檢出 ... ... <看更多>